. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956 . Fig. 1. Diffraction pattern of PbTe layer. Fig. 2. PbTe layer exposed to intense electron beam during 10-20 seconds. Magnification 6000. Fig. 3. PbTe layer exposed to intense electron beam longer than 20 seconds. Magnification 6800. rings of the NaCl type structure, the intensity of which is determined by the difference of atom factors. Thus, a crystal lattice of the kind proposed shows an electron diiTraction pattern corresponding to simple cubic structure with the lattice constant halved. Of the three analogous

Analitikai sütik olyan sütik, amelyek lehetővé teszik a weboldal tulajdonosainak, hogy megértsék, hogyan használják a látogatók a weboldalt. Ezek az adatok segítenek abban, hogy a weboldal használhatóságát javítsák, azáltal, hogy elemzik a látogatói viselkedést, például azt, hogy mely oldalakat látogatják meg leggyakrabban, és mennyi időt töltenek ott. Az ilyen sütik által gyűjtött információk névtelenek, és nem tartalmaznak személyes adatokat. Például a Google Analytics segítségével követjük a látogatók számát és a forgalmi forrásokat, hogy jobban megértsük, milyen módon interakcióznak a felhasználók az oldallal.

Marketing sütik a hirdetési szolgáltatásokhoz kapcsolódnak, és célja, hogy releváns és személyre szabott hirdetéseket jelenítsenek meg a látogatóknak, mind a weboldalon, mind más platformokon. Ezek a sütik adatokat gyűjtenek a felhasználók böngészési szokásairól, valamint arról, hogy mely hirdetésekkel interakcióznak, ezáltal segítve a hirdetőket abban, hogy hatékonyabb kampányokat futtassanak. Például a Google Ads sütik segítségével a hirdetések testreszabottak lehetnek az érdeklődési kör alapján, és elkerülhető, hogy ugyanaz a hirdetés többször jelenjen meg a felhasználónak. Ezek az információk megoszthatók harmadik felekkel is, mint hirdetési partnerek.